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SEMICON Taiwan 2014 潔淨室AMC監測技術應用及未來趨勢發表會
潔淨室AMC監測技術應用及未來趨勢發表會
本公司（沃亞科技）受邀參與2014年「台北國際半導體設備材料展 高科技廠房設施專區」之技術發表會，特此邀請並歡迎您蒞臨指導，感恩！謝謝。
公司將邀請Particle Measuring Systems 原廠技術研發部門經理Dr. Dan Rodier進行專題演講。
演講題目：潔淨室AMC監測技術應用及未來趨勢
演講地點：台北世界貿易中心南港展覽館
演講攤位：南港展覽館1F 高科技廠房專區K區 No.2002
演講期間：09月04日(四) 13:00 pm~13:30