經過二十多年的發展，TOFWERK公司在真空系統設計、高速資料獲取軟硬體、資料處理展示軟體和飛行時間質譜分析儀等領域取得顯著的技術突破、並獲得廣泛的市場認可。依託公司先進的工業設計和生產平臺，使得新型儀器從圖紙設計到快速量產得以實現，能為不同行業研究實驗室和廣大儀器廠商的分析需求提供量身定制的解決方案。

地區	亞洲	歐洲	美洲
客戶	國立陽明交通大學國立新加坡大學韓國科學技術研究院韓國電力公社印度熱帶氣象研究所中國北京大學清華大學北京化工大學復旦大學上海交通大學上海環境科學研究院中科院西安地化所中科院生態中心香港環保署澳門大學	挪威奧斯陸大學德國馬普所 (Mainz) 英國曼徹斯特大學東英吉利大學法國IRCELYON研究所法國國家工傷事故與職業病預防INRS研究所芬蘭赫爾辛基大學瑞士伯恩大學	美國環保署EPA 加州南海岸空氣品質管制局美國國家海洋和大氣管理局德克薩斯大學科羅拉多大學加州大學伯克利分校威斯康辛大學加拿大多倫多大學墨西哥國立自治大學

針對半導體微量AMC (Airborne Molecular Contaminants) 的多通路定點和移動監測的應用，TOFWERK的Semicon AMC產品集成了離子源，離子傳輸聚焦專利設計和多年的飛行時間研發積累，使得此系列產品解析度和靈敏度均比傳統的AMC檢測儀器有了較大的提升。

產品特點：

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同時監測關鍵的AMC微污染類別，包括：

☆	MA-酸 (腐蝕劑)
☆	MB-鹼
☆	VOCs-揮發性有機物

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pptV等級量測極限

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客製化的AMC資料庫

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無碎片測量，確保正確性

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每秒即時採樣、即時分析、即時輸出

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高靈敏度

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可移動，針對特定點位或者多點量測

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依需求可選擇各式適合型號

量測方式	量測極限 (LOD)	反應時間 (T90)	每秒輸出資料	可追溯未知物種	Online監測	移動性
混合探測器 (Hybrid Detector)	ppb	< 5 sec	X	X	V	V
光腔衰盪 (Cavity Ring Down, CRD)	ppb	< 5 sec	X	X	V	X
GC-MS/四極柱 (Quadrupole MS)	sub-ppb	> 30 min	X	X	X	X
ABC Monitor	ppt	< 100 ms	V	V	V	V
VOC Monitor	ppt	< 100 ms	V	V	V	V

全面覆蓋最關鍵的AMC類別

MA	MB	MC	VOCs
Acetic acid HBr HCl HF HNO₃ Sulfuric acid	Ammonia DMA Morpholine NMP	Cyclopentane DMA EA Ethyl acetate Ethyl benzene HDMS MeCl₂ PFAS PGME PGMEA Phthalates TEB TEOS Benzene Toluene	Acetone EEP Fluorinated IPA MEK Refrigerants